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 基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14µm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量（CO2，OPO激光…）。

  SID4-Dwir                      光学器件测量                  自适应光学

特点：

由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点：

• 1.高分辨率：160x120测量点
• 2.双波长测量：3-5，8-14µm中远红外
• 3.消色差：可用于黑体辐射测量
• 4.高数值孔径测量：无需外加透镜

 应用：

 1.光学测量：SID4-Dwir是表征红外目标的完美工具（热成像和安全视觉），红外镜头（CO2激光）测量可出给MTF，PSF，以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。

2.激光束测量：如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量，SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性（像差，M²，强度分布，光束参数…）

SID4-Dwir产品参数：